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手动晶圆级探针台系统TS150&TS200&TS300的详细介绍
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300应用于测试半导体晶圆级、器件类电学特性，具备可以快速拖动样品台，更换样品功能，并且有着独特Platen ...
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手动晶圆级探针台系统（微屏蔽）TS300-SE的详细介绍
TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高级EMI RFI ...
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手动晶圆级探针台系统（微屏蔽）TS200-SE的详细介绍
TS200-SE Probe SystemMPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI RFI 不透光屏蔽，超低噪声，低泄 ...
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高功率探针台系统TS2000-HP的详细介绍
TS2000-HP Probe SystemMPI的TS2000-HP半自动化探针台测试系统可提供8英寸及以下晶圆器件的高功率测量，先进的ShielDEnvironment™ ...
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高功率探针台系统TS2000-DP的详细介绍
TS2000-DP Probe SystemTS2000-DP是MPI提供一套多功能且经济高效的8寸半自动高功率测试探针台，可在20°C至300°C的温度范围内进行 ...
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高功率探针台系统TS150-HP & TS200-HP的详细介绍
TS150-HP & TS200-HPMPI大功率器件表征系统是专门为晶圆上大功率器件测试而设计的。MPI TS150-HP和TS200-HP探针系统提供了完整的150mm和 ...
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全自动晶圆级探针台系统TS3500的详细介绍
S3500 Probe SystemTS3500和TS3500-SE 在功能上与MPI著名的已建立的 TS3000 和 TS3000-SE 300毫米探针台具有相同的功能，并通过配置 ...
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全自动晶圆级探针台系统TS2500的详细介绍
TS2500 Series Probe SystemMPI的200毫米 8寸全自动探针台系统系列是专门为解决射频(RF)和大功率晶圆测试而开发的，该系统旨在实现24 7 ...
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半自动晶圆级探针台系统TS2000-SE的详细介绍
MPI的TS2000-SE 8寸半自动探针台是市场上首个具有创新功能的200mm自动化晶圆测试系统，其包含独特的侧面自动装卸功能，优势：适用于多种晶 ...
