手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)TS200-SE的详细介绍返回列表
TS200-SE Probe SystemMPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI RFI 不透光屏蔽,超低噪声,低泄
TS200-SE Probe System
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能。
适用于多种晶圆量测应用,
• 如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
• 支援飞安级低漏电量量测
• 温度量测范围 -60 °C 至 300 °C