随着高速互联链路信号传输速率的不断提高，作为器件和信号传输的载体，印制电路板（PCB）的信号完整性对通信系统的电气性能有着至关重要的影响。尤其是10G和25G+产品的大规模商用，对PCB传输线插入损耗（Insertion Loss）指标的监控是高速PCB研发和量产过程中管控的重要手段，不同高速产品，客户对信号损耗会有不同的要求，以服务器产品为例，Intel基于不同的服务器平台，对PCB带状线和微带线的损耗有着不同的损耗控制要求。

        Delta L法是Intel提出，目前已大量应用于服务器产品量产测试的方法，是SET2DIL方法的替代。Delta L法设计两条不同长度的传输线（如图6所示），传输线通过过孔（Via）、焊盘（Pad）等连接至测试探针或SMA，采用VNA测试长短线的插损值，其中，结构A的插损值ILA = ILX1 + ILVias，结构B的插损值ILB = ILX2 + ILVias，在获取长短线的插损后，先进行拟合运算，消除多重反射的影响，再直接做差值操作，从而获得单位长度传输线的插损值：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。为弱化测试系统的的不匹配效应及多重反射对插损结果的影响，Delta L法对长度线的长度有严格要求，一般地，长短线差异需大于7.5 cm，以使多重反射的影响最小化。

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