产品介绍：

器件带电模型测试机HED-C5000R，用于测试IC器件CDM模型下的抗静电能力，符合国际标准AEC，JEDEC / ESDA JS-002之最新要求。满足不同封装形式半导体器件的工艺研发和量产测试，操作方便，性能稳定，已广泛使用在国内外先进半导体公司。

产品优势：

1、满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型测试规范

2、测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高

3、供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠

4、硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型

5、唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台

产品介绍：

HANWA新一代G5000系列全自动ESD（HBM/MM）与闩锁效应测试机隆重登场，最高支持2048pin，符合国际标准JEDEC /ESDA JS-001之最新要求，独家采用无继电器Mechanical GND设计，几乎不受寄生电容效应的影响，避免对于先进制程IC器件造成错误的测试结果。

产品优势：

1、适应以下国际标准波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA
2、该系统独特的短路放电电路可通过其原始机械设计实现
3、短路最大限度地减少电感和电容对数据的影响
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性