产品介绍

1.、MPI的 TS3000 是半自动300mm探针台测试系统，搭配独特的可开放式做高低温测试，专门为产品工程，故障分析，设计验证，晶圆级可靠性以及RF和mmW应用而设计。

2、带有 KTE 7 软件的KeithleyS530 系列参数测试系统，可提供高速、完全灵活的配置，能够随着新应用的出现和需求变化而不断发展。

产品优势

MPI TS3000

• 模块量测 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV / RF / HP

• 温度范围-60°C至300°C

• 较强的灵活性

• 具有和电缆接口的与功能测试仪的最小的连接距离，可实现更好的测量稳定性

• 较小的Chuck到工作台面高度可实现不错的内部节点探测

• 内部集成自动检测露点安全控制系统，将系统占地面积降至较低

泰克 S540

• 在单次探头触摸中自动在多达 48 个引脚上执行所有晶片级参数测试，包括高电压击穿、电容和低电压测量，而无需更改电缆或探头卡基础设施

• 在最高达 3kV 的条件下执行晶体管电容测量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而无需手动配置测试引脚

• 在高速、多引脚、全自动测试环境中实现低电平测量性能

• 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件支持轻松进行测试开发和快速执行

• 非常适合于过程集成、过程控制监控和生产芯片分类中的全自动或半自动应用

• 通过最大程度减少测试时间、测试设置时间和占地面积，降低拥有成本，同时实现实验室级测量性能

泰克 S530

•High Speed Production Test Solutions

• Applications include Semiconductor Process Control Monitoring(PCM),TEG Test,and Die Sort

• Parallel Test capability maximizes test throughput

• Measure from kV to fA in a single probe touchdown to further boost productivity

• ISO-17025 System-level calibration

• Smooth migration from legacy test systems, including probe card re-use

• Low Cost-of-Ownership(COO)