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测试仪表概伦电子FS-Pro 半导体参数测试系统
FS-Pro 半导体参数测试系统FS-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电 ...
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测试仪表Keisight PNA网络分析仪 N5291A
PNA网络分析仪 N5291A900 Hz 至 120 GHz PNA 毫米波系统主要特性和功能· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单 ...
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测试仪表Maury脉冲I/V测试系统/噪声参数测试系统/矢量接收机负载牵引系统
脉冲I V测试系统Maury 微波公司脉冲测量技术专业化程度极高而且普遍被业内用户认可，搭配MPI探针台系统其解决方案既可以作为独立的脉冲IV ...
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测试仪表R&S 罗德斯瓦茨/ZNA矢量网络分析仪
R&S ZNA矢量网络分析仪R&S 兼具出色的射频性能、丰富的软件功能和独特的硬件概念。仅触摸操作概念和以被测设备为中心的操作方法使 R&S&r ...
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测试仪表Keithley4200A-SCS/Tektronix示波器/全自动半导体参数分析仪
随时可以投入使用、可以修改的应用测试、项目和器件，缩短测试开发时间，内置测量视频的仪器，测试视频由全球应用工程师提供，分为4种语言，缩短学习周期...
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MPI 手动晶圆级太赫兹探针台系统TS150-AIT/TS200-THZ/TS150-THZ
TS150-AIT & TS200-THZTS150-AIT和TS200-THZ探针系统专为新兴的THz应用而设计，例如高速5G通信，卫星，非侵入性光谱，医疗保健设备以及短 ...
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MPI 手动晶圆级探针台系统TS150&TS200&TS300
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300应用于测试半导体晶圆级、器件类电学特性，具备可以快速拖动样品台，更换样品功能，并且有着独特Platen ...
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MPI 测试系统选件DC & RF/MPI MicroPositioners/Chuck System
DC & RF Probe ArmsMPI提供了完整的探针臂产品组合，如：• 同轴• 三轴• 高压版本• 开尔文• 射频所有这 ...
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MPI NoiseShield探针台系统
NoiseShield™配备ShielDEnvironment™(高性能微屏蔽系统)的MPI探针台，例如TS200-SE，TS300-SE，TS2000-SE，TS3000-SE或TS3500- ...
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MPI 半自动晶圆级探针台系统SiPH/TS3000-SE/TS3000/TS2000-SE/TS2000
SiPH Probe SystemMPI为其著名的TS2000-SE，TS3000，TS3000-SE，TS3500和TS3500-SE探针系统设计了专用的SiPH升级，包括：• 高精度 ...
