业界领先的1/f & RTN测试方案TS3000-SE半自动12寸直流/射频探针台

TS3000-SE探针系统的进一步发展,为超低噪声及准确和高度可靠的DC/Cv,1/f RTN和射频测量,主要解决器件特性测试需要,晶片及可靠性和射频和毫米波应用。独特主动高低温样品台设计提供了最大的稳定性,宽温度范围从-60度到300度,使TS3000-SE探针台系统成为不同热条件下测试设备的绝佳选择。

产品优势

9812DX 低频噪声测试系统

出色的半导体公司所采用的标准测试系统格

体系架构的可靠性和精度:>100客户，>20年O

任意待测类型,晶圆级最高精度和测试带宽舍

最宽电压、最宽电流最宽阻抗测量范围

高精度下业界出色的测试速度和并行测试吞吐率R

产品优势

FS-Pro基于AI算法驱动的半导体

参数测试系统

知名大学和科研院所广泛采用的标准测试仪器骼

超快速:较传统测试系统,测试速度高达10倍

)广泛的应用范围:被工业界和科研领域所采用食

多通道:最高可支持高达100个测试通道

可扩展架构:可扩展至晶圆量产测试(WAT)

产品应用

先进半导体工艺质量监控和工艺平台评估

器件噪声特性测试和SPICE模型库开发

高端集成电路设计

产品应用

光电器件和微机械系统

新型材料与器件

无损探伤与测试

超低频噪声领域