霍尔效应测试探针台系统产品优势及适用范围返回列表
霍尔效应测试产品有:振动样品磁强计 VSM、霍尔效应测试系统HEMS、霍尔效应测试系统EzHEMS
霍尔效应测试系统HEMS适用范围: GaAS based materials (HEMSTs,pHEMTs,HBTs,FETs,MESFETs), lnP, InAs, GaN and AIN, Si, Ge, SiC, HgCdTd, ZnO, SiGe, MnGaAS, ZnO, 红外应用(LED, laser diodes, detectors), 金属氧化物, 有机材料, 无机材料, 铁氧体等。
•电阻率测量范围:10-4-109Ω·cm(取决于样本)
•迁移率:1-107cm2/V·S(取决于样本)
•载流子浓度: 107 -1021 per cm3 (取决于样本)
•电流源:±2nAto±20mA,±12Vcompliance
VSM Measurement Parameters
• 振动头振动频率(校准):1-100Hz
• VSM振荡幅度范围:0.1mm-5mm
• 最大样品直径:6mm
• 适用于液体、粉末、块状样品测试