EVS Probe Card

产品概要：

EVS探针卡是对传统bucklingbeam探针卡的增强。主要特点是更高的载流能力(C.C.C.)和更低的平衡接触力(BCF)，以及整体的MEMS特性。

基本信息：

EVS可以轻松满足先进晶圆探测的要求，精确对准和良好的平面度控制是稳定接触电阻的关键因素，凭借其容量和性能，EVS 是高级探卡的理想选择。

技术优势：

1、类MEMS特性，具有平头和尖头两种，较小的针痕

2、对80um以上的pitch更理想

3、平面接触力比常规屈曲梁低50%

4、载流能力比常规屈曲梁高40%

5、更长的叶尖长度有助于延长使用寿命

6、与MPl内部基板兼容

应用方向：

主要应用于先进晶圆探测。

EVS Probe Card

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