英铂实验室测试中心现有测试类型:直流测试、射频测试、
高压大电流测试、光电测试、极低温磁场测试、ESD/TLP测试、PCB板级测试等
MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。
MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。
1、使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置,以实现超常规对齐和平面度
2、减少高温或低温试验期间的热变形
3、R+和U+结构的高速解决方案,用于严格的Pl和Sl应用
4、通过先进的探针材料和设计,稳定低接触电阻性能
5、交付周期短,是工程设备的理想选择
MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。
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