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MPI 手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)TS300-SE/TS200-SE返回列表

2022-02-16 yl23455永利官网
MPI 手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment&t

MPI 手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)

完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商

TS300-SE Probe System

MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能环境。 它以较佳高度与防震台结合在一起,使日常操作非常方便。

适用于多种晶圆量测应用

• ,如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境

• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境

• 支援飞安级低漏电量量测

• 内置防震系统

TS200-SE Probe System

MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能。

适用于多种晶圆量测应用,

• 如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境

• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境

• 支援飞安级低漏电量量测

• 温度量测范围 -60 °C 至 300 °C